以專(zhuān)業(yè)的服務(wù)確保您的產(chǎn)品質(zhì)量和合規
漢斯曼集團（HQTS GROUP）提供專(zhuān)業(yè)高效的測試服務(wù)，幫助您的產(chǎn)品快速進(jìn)入市場(chǎng)，降低您的經(jīng)營(yíng)風(fēng)險，保障消費者安全和產(chǎn)品的可靠性。
漢斯曼集團測試實(shí)驗室是國家質(zhì)量監督檢驗檢疫總局認可的實(shí)驗室，獲得CNAS和CMA認可，擁有數十年的產(chǎn)品測試經(jīng)驗。我們憑借經(jīng)驗豐富的檢測專(zhuān)家團隊和專(zhuān)業(yè)卓越的測試服務(wù)能力，為全球客戶(hù)提供全套完整的測試解決方案。
漢斯曼集團（HQTS）旗下有多處獨立的專(zhuān)業(yè)第三方實(shí)驗室，國家質(zhì)量監督檢驗檢疫總局認可，獲得CNAS和CMA認可，可出具CNAS、CMA、TIC、ISTA、CPSC等國際認可的報告、專(zhuān)業(yè)的第三方檢驗 檢測機構、1-3天出具正式報告、業(yè)務(wù)范圍涵蓋 礦產(chǎn)能源，紡織品，日常用品，工業(yè)制造等、可以為全球客戶(hù)提供全套完整的測試解決方案（入駐電商平臺、大型商超賣(mài)場(chǎng)、招投標等可用 。）。
我們的測試服務(wù)范圍包括但不限于：
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我們最快2小時(shí)內聯(lián)系您
| HQTSDualBeamFIB測試服務(wù) | |
| ■ CircuitEdit芯片線(xiàn)路修改 | |
| ■ Cross-section納米切片制樣 | |
| ■ SEM&EDX高分辨電子掃面顯微鏡&EDX能譜分析 | |
| ■ HQTS深圳半導體實(shí)驗室DualbeamFIB測試能力 | |
服務(wù)挑戰
隨著(zhù)集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，其芯片的特征尺寸變得越來(lái)越小，器件的結構越來(lái)越復雜，與之相應的芯片工藝診斷、失效分析、器件微細加工也變得越來(lái)越困難，傳統的分析手段已經(jīng)難以滿(mǎn)足集成電路器件向深亞微米級、納米級技術(shù)發(fā)展的需要。FIB技術(shù)的出現實(shí)現了超大規模集成電路在失效分析對失效部位的精密定位，是大規模集成電路失效分析的基礎?，F在FIB的加工精度可達到深亞微米級、納米級，極大程度上提高了EDX的成分分析，能針對樣品中的微細結構進(jìn)行納米尺度的定位及觀(guān)察。HQTSDualBeamFIB測試服務(wù)為客戶(hù)提供更為精確的測試和改善措施。
服務(wù)內容
雙束聚焦離子束DualBeamFIB
DualBeamFIB:(雙束聚焦離子束)機臺能在使用離子束切割樣品的同時(shí)，用電子束對樣品斷面(剖面)進(jìn)行觀(guān)察，亦可進(jìn)行EDX的成分分析，能針對樣品中的微細結構進(jìn)行納米尺度的定位及觀(guān)察。離子束最大電流可達65nA，快速的切削速度能有效縮短取得數據的時(shí)間。
解決方案
設備能力
●CircuitEdit芯片線(xiàn)路修改
●Cross-section納米切片制樣
●SEM&EDX高分辨電子掃面顯微鏡&EDX能譜分析
●HQTS深圳半導體實(shí)驗室DualbeamFIB測試能力
Vendor | ThermoFisher(USA) |
Model | Helios5CX |
Spec | Electronbeamresolution ? AtoptimumWD: ? coincidentpoint: |
DualBeamFIB工作原理簡(jiǎn)介
聚焦離子束(FIB)系統利用鎵離子源和雙透鏡聚焦柱，用強烈的聚焦離子束轟擊標本表面，以進(jìn)行精密材料去除、沉積和高分辨率成像。
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)是聚合了FIB處理樣品和SEM觀(guān)察成相的功能。其中FIB是將Ga元素離子化離子化成Ga+，然后利用電場(chǎng)加速，再利用靜電透鏡聚焦將，將高能量的Ga+打到指定點(diǎn)從而達到處理樣品的功能。https://www.f.hqtsgroup.com/sku/product/901469
服務(wù)優(yōu)勢
| HQTS在半導體領(lǐng)域具備完整的產(chǎn)業(yè)鏈服務(wù) | |
| HQTS具備全球的服務(wù)能力 | |
| HQTS在半導體產(chǎn)品方面具有多年的檢測經(jīng)驗 | |
| HQTS對于半導體在汽車(chē)行業(yè)的應用方面具備相關(guān)服務(wù)及檢測經(jīng)驗 |
應用案例
● 芯片線(xiàn)路修改案例：
● FIB切片制樣觀(guān)察：
● SEM&EDX能譜分析：
服務(wù)流程
1.咨詢(xún)客服 | 2.申請測試 | 3.支付費用 | 4.寄送樣品 | 5.獲取報告 |
溝通業(yè)務(wù)需求 | 填寫(xiě)測試申請單 | 并提交開(kāi)票資料 | 并隨樣品一起 郵寄至HQTS實(shí)驗室 | 獲取測試報告 |
